Aleksandr Danilenko
Tutkijatohtori
Fysiikan ja matematiikan laitos, Luonnontieteiden, metsätieteiden ja tekniikan tiedekunta
Julkaisut
2/2 kappaletta-
Application of a bandwidth correction method to thin-film reflectance measurements
Danilenko, Aleksandr; Rastgou, Masoud; Manoocheri, Farshid; Ikonen, Erkki, 2026, Metrologia, 63, 1, 015007. A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä -
Characterisation of Complex Multilayer Nanostructures with High Aspect Ratio
Ikonen, Erkki; Danilenko, Aleksandr; Rastgou, Masoud; Manoocheri, Farshid; Kinnunen, Jussi; Korpelainen, Virpi; Lassila, Antti, 2026, Physica status solidi a: applications and materials science, 223, 7, e202501022. A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä